大型步入式老化房也廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊等領(lǐng)域產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）的溫濕度環(huán)境測試。通過測試檢驗產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。為企業(yè)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品問題，改進提高產(chǎn)品質(zhì)量，提升品牌競爭力提供強有力的保障。

大型步入式老化房滿足試驗標準： 

GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb

GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法：試驗A

GJB150.3-1986   高溫試驗

GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab

GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗

GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗

GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)